集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 pdf电子书下载 百度网盘下载

芯片放在电路板上工作时，周围电磁环境的变化会不会干扰它？哪个区域最敏感？这份标准回答的就是这类问题。它讲的是一种叫"表面扫描法"的测试手段——用一个微型探头贴着芯片表面逐点扫过，看哪里对近场电磁扰动最"脆弱"。

测试频率范围做到了6GHz以内，在频域里用连续波来扫描。分辨率取决于探头的精度和定位系统的精度，某种意义上跟用显微镜看东西差不多，只不过观察对象从细胞变成了电磁场分布。测出来的结果是一张"灵敏度分布图"，芯片上哪里容易出问题一目了然。

这份标准的来头也值得一提，它等同采用了IEC/TS 62132-9:2014，由全国集成电路标准化技术委员会归口，工信部主管。定位上偏诊断性质，不只是"过没过"的判定，更是用来做芯片架构分析的——比如版图规划合不合理、电源分配需不需要优化，扫描结果都能提供线索。

适用对象是装在任何电路板上、扫描探头够得着的集成电路。想比较不同芯片的抗扰度表现，标准里建议用统一的测试板来保证可比性。芯片设计工程师、EMC测试人员、半导体可靠性实验室，大概是这份文件的主要读者群。